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            MiniTest2100涂鍍層測厚儀,德國EPK公司測厚儀

            簡要描述:德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
            MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;

            • 產品型號:
            • 廠商性質:經銷商
            • 更新時間:2025-10-21
            • 訪  問  量:1421
            詳細介紹

             

            德國EPK公司-MiniTest2100涂鍍層測厚儀
            德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
            MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
            所有型號均可配所有探頭;
            可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
            可使用一片或二片標準箔校準。

            MiniTest2100涂鍍層測厚儀功能

            型號

            1100

            2100

            3100

            4100

            MINITEST 存儲的數據量

            應用行數根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數

            1

            1

            10

            99

            每個應用行下的組(BATCH)對組內數據自動統計,并可設寬容度值

            -

            1

            10

            99

            可用各自的日期和時間標識特性的組數

            -

            1

            500

            500

            數據總量

            1

            10000

            10000

            10000

            MINITEST統計計算功能

            讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

            -

            讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

            -

            -

            組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

            -

            -

            組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

            -

            -

            存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據

            -

            -

            -

            分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值

            -

            -

            顯示并打印測量值、打印的日期和時間

            -

            其他功能

            透過涂層進行校準(CTC)

            -

             

             

            在粗糙表面上作平均零校準

            利用計算機進行基礎校準

            補償一個常數(Offset)

            -

            -

            外設的讀值傳輸存儲功能

            -

            保護并鎖定校準設置

            更換電池是存儲數值

            設置值

            -

            -

             

             

            公英制轉換

            連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值

            -

            -

             

             

            連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

            -

            -

             

             

            浮點和定點方式數據傳送

            組內單值延遲顯示

            -

            連續測量模式中顯示zui小值

             

             

            MiniTest2100涂層測厚儀可選探頭參數( 探頭圖示
            所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
            F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
            N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
            FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

            德國EPK公司MiniTest2100涂層測厚儀探頭參數

            探頭

            量程

            低端
            分辨率

            誤差

            zui小曲率
            半徑/

            zui小測量
            區域直徑

            zui小基
            體厚度

            探頭尺寸




             

             

             

             

             

             

             

            F05

            0-500μm

            0.1μm

            ±(1%±0.7μm)

            1/5mm

            3mm

            0.2mm

            φ15x62mm

            F1.6

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            1.5/10mm

            5mm

            0.5mm

            φ15x62mm

            F1.6/90

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            平面/6mm

            5mm

            0.5mm

            φ8x8x170mm

            F3

            0-3000μm

            0.2μm

            ±(1%±1μm)

            1.5/10mm

            5mm

            0.5mm

            φ15x62mm

            F10

            0-10mm

            5μm

            ±(1%±10μm)

            5/16mm

            20mm

            1mm

            φ25x46mm

            F20

            0-20mm

            10μm

            ±(1%±10μm)

            10/30mm

            40mm

            2mm

            φ40x66mm

            F50

            0-50mm

            10μm

            ±(3%±50μm)

            50/200mm

            300mm

            2mm

            φ45x70mm



             

             

             

            FN1.6

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            1.5/10mm

            5mm

            F0.5mm
            N50μm

            φ15x62mm

            FN1.6P

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            平面

            30mm

            F0.5mm
            N50μm

            φ21x89mm

            FN2

            0-2000μm

            0.2μm

            ±(1%±1μm)

            1.5/10mm

            5mm

            F0.5mm
            N50μm

            φ15x62mm




             

             

             

             

             

             

             

             

             

            N02

            0-200μm

            0.1μm

            ±(1%±0.5μm)

            1/10mm

            2mm

            50μm

            φ16x70mm

            N.08Cr

            0-80μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            2.5mm

            2mm

            100μm

            φ15x62mm

            N1.6

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            1.5/10mm

            2mm

            50μm

            φ15x62mm

            N1.6/90

            0-1600μm

            0.1μm

            ±(1%±1μm)

            平面/10mm

            5mm

            50μm

            φ13x13x170mm

            N10

            0-10mm

            10μm

            ±(1%±25μm)

            25/100mm

            50mm

            50μm

            φ60x50mm

            N20

            0-20mm

            10μm

            ±(1%±50μm)

            25/100mm

            70mm

            50μm

            φ65x75mm

            N100

            0-100mm

            100μm

            ±(1%±0.3mm)

            100mm/平面

            200mm

            50μm

            φ126x155mm

            CN02

            10-200μm

            0.2μm

            ±(1%±1μm)

            平面

            7mm

            無限制

            φ17x80mm

            F1.6/90F2/90N1.6/90N2/90為直角探頭,用于管內測量。
            N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。


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