ZX-5DL超聲波測(cè)厚儀

美國DAKOTA公司 ZX-5DL超聲波測(cè)厚儀
美國DAKOTA ULTRASONICS公司推出的新一代超聲波測(cè)厚儀ZX系列。具有使用簡單，功能強(qiáng)大，體積小巧，可靠性高等特點(diǎn)。擠壓鋁制外殼，堅(jiān)固耐用。

ZX-3超聲波測(cè)厚儀
- 150V方波脈沖發(fā)生器
- 可調(diào)增益( 40~52dB )，以3dB為步長(可選超低、低、中、高、超高五檔)
- 可選擇手動(dòng)或自動(dòng)探頭校零
- 低溫定制液晶顯示器(-30℃)
- IP65防護(hù)等級(jí)
ZX-5超聲波測(cè)厚儀。在ZX-3的基礎(chǔ)上，增加：
- 聲速測(cè)量模式，可做為超聲波聲速儀(球化率儀)
- 差值模式
- 上下限報(bào)警模式
- USB Type-C數(shù)據(jù)接口
ZX-5DL超聲波測(cè)厚儀。在ZX-5的基礎(chǔ)上，增加： 
- 32M閃存內(nèi)部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器 超聲波測(cè)厚儀ZX-3/ZX-5/ZX-5DL

美國DAKOTA公司 ZX-5DL超聲波測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
測(cè)量
測(cè)量范圍：0.63~914.4mm(鋼)，取決于材料和探頭類型
單位：英制和公制
分辨率：0.01mm
聲速范圍：305~18542m/s
脈沖重復(fù)頻率：200Hz
顯示刷新頻率：10Hz
增益：40~52dB，步進(jìn)3dB
顯示
多功能7段4位半數(shù)字液晶顯示器，數(shù)字高度為12.7mm
兩個(gè)3.2mm14段顯示區(qū)和一 個(gè)7段顯示區(qū)，用于顯示信息和數(shù)值
附加的圖標(biāo)表示功能和模式
背光可選擇開/關(guān)/自動(dòng)，可選 擇亮度(低、中、高)選項(xiàng) 條形讀數(shù)穩(wěn)定性/重復(fù)性指示
特點(diǎn)
探頭校零：手動(dòng)和自動(dòng)校零
探頭直徑：可選擇探頭直徑以提高線性
高速掃描模式： 顯示掃描期間的小讀數(shù)，掃描頻率為100Hz
差值模式：顯示測(cè)量值和輸入的標(biāo)稱值的差值( ZX-5和ZX-5DL)
報(bào)警模式：上下限聲光報(bào)警(ZX-5和ZX-5DL)
聲速測(cè)量模式：用于球化率的測(cè)量(ZX-5和ZX-5DL)
探頭
頻率范圍：1~10MHz
雙晶探頭
LEMO接口，1.2米探頭線
可定制用于特殊應(yīng)用的探頭
存儲(chǔ)
可存儲(chǔ)40組，每組250個(gè)數(shù)據(jù)，共10000個(gè)數(shù)據(jù)(ZX-5DL)
其他
鍵盤： 防水防油密封按鍵膜，九個(gè)觸感反饋按鍵
電源：標(biāo)配為兩節(jié)5號(hào)堿性電池 ，可選鎳鎘電池或鋰電池。電池低電量指示。無操作五分鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)。Type-C供電(ZX-5和ZX-5DL)
重量：312g(含電池)
尺寸：131.3x63.5x31.5mm
操作溫度：-30~75℃
外殼：擠壓鋁制外殼，底蓋為鎳板鍍鋁，環(huán)保封裝
包裝：ABS工程塑料箱
美國DAKOTA公司 ZX-5DL超聲波測(cè)厚儀常用探頭

型號(hào)	頻率	探頭晶片直徑	探頭接觸直徑	測(cè)量范圍	說明
PT-102-2000	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	標(biāo)準(zhǔn)探頭
PT-101-2000	5.0MHz	4.76mm	6.35mm	1.0～50mm	小管徑探頭
PT-104-0000	1.0MHz	12.7mm	15.88mm	3.8～50.8mm(鑄鐵中)	鑄鐵探頭
PT-102-1000	2.25MHz	6.35mm	9.53mm	1.5～100mm	低頻探頭
PT-102-3300	7.5MHz	6.35mm	9.53mm	0.63～152mm	超薄探頭
PT-104-2000	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚探頭
PT-042-2000	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	標(biāo)準(zhǔn)高溫探頭，zui高340℃
PT-044-2000	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	厚高溫探頭，zui高340℃
PT-212-2001	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	超高溫探頭，zui高480℃
PT-214-2001	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚超高溫探頭，zui高480℃

注：測(cè)試高溫表面時(shí)需用高溫耦合劑